Обложка Испытание и исследование полупроводниковых приборов

Испытание и исследование полупроводниковых приборов

Оценка: 0,0
Cтраниц: 330
Год издания: 1975
О чем книга

В книге изложены основные принципы и методы измерения параметров полупроводниковых приборов; дана оценка погрешностей измерения параметров; описаны методы измерения статических параметров, параметров двухполюсника и четырехполюсника с помощью малого сигнала, импульсных параметров, шумовых и тепловых параметров, параметров высокочастотных полупроводниковых приборов и др.; приведены особенности конструирования измерительного и испытательного оборудования.

Рецензии 0
Совместные чтения 0
Комментарии
0